画像処理検査装置・外観検査装置のヴィスコ・テクノロジーズ

私たちは、画像一筋です。ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社

BGA檢查
BGA專用工具
簡單的設定,即可直接進行檢查

可以簡單進行焊球/模版的登錄等檢查設定,
並可立即實施檢查。

常見的問題

設定複雜
費工夫

焊球登記數太少
對應範圍受限

焊球的高度
也想同時檢查

ViSCO為您解決!

透過BGA專用工具,即可直接進行檢查

【BGA檢查工具】是BGA(Ball Grid Array)封裝(裡面)專用的外觀檢查工具。
專用工具可簡單的進行焊球/模版的登錄等檢查設定,並可立即實施檢查。

・可登錄的焊球數為100×100=10,000個(最多)
・焊球切分(自動,手動)
・簡單登錄焊球的功能 焊球模版為積分模版
  焊球模版遮罩處理
・可確認每個焊球的得分,對比度
・自動設定焊球位置

檢查項目

選擇預先所準備的項目,就可簡單設定檢查項目。

焊球品質:搜索得分,對比度
焊球外形:焊球直徑,焊球真圓度
焊球位置:X差分,Y差分,XY差分

組合檢查工具,完成多種的檢查項目

搭配泛用檢查工具(BLOB檢查,DefFinder®等)的組合,實現各種檢查。

背面

正面

封裝檢出、檢查

從封裝輪廓部分的邊緣求得最佳直線,並在其交叉點檢出封裝的位置。
透過所檢出的封裝資訊,完成各種檢查。

◯封裝寬度
◯封裝高度
◯封裝變形
◯封裝缺損
◯異物混入

建立高精度的動態遮罩,可以減少誤檢漏檢的發生。

即使面對大小不均的矽晶片等,亦可沿著邊角的形狀建立遮罩。對應各種的待測物,正確輸出遮罩

  • 變成倒角
  • 變成圓角
  • 內側圓角

切換光源條件進行各種檢查

配合檢查項目切換到最佳的光源條件,實現最穩定的檢查。

光源條件1

封裝缺損檢查

光源條件2

焊球內異物檢查

公司介紹

作為外觀檢查、影像處理檢查相關的專業團隊,我們將持續提供領導業界的產品。

我們是外觀檢查、影像處理檢查相關的專業團隊。不單只是製造商,還兼備了影像處理演算法、光學技術、電氣、機械的知識和經驗,並且能夠處理綜合性咨詢的開發型工程的企業。

支援/咨詢
如有任何關於各種產品的諮詢或問題,請隨時與我們聯繫。
電話咨詢
+886-2-2581-6763
從網上咨詢
咨詢請由此與我們連繫
技術支援專線技術相關咨詢

咨詢・相關信息

PAGE TOP