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VP-1000/5000
半導体・電子部品専用画像処理検査装置

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

VPシリーズは、半導体・電子部品製造の後工程外観検査に必要な機能を標準搭載した、オール・イン・ワン設計のシステムです。


オール・イン・ワン設計 - 半導体・電子部品製造の後工程外観検査をサポート

[1]イン・ポケット パッケージ外観検査

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

テーピングマシーンにおける要求の多くは、エンボステープにデバイスを挿入した後でリードピンの検査を行いたいということです。デバイス挿入時にリードピンを曲げてしまうことがなかったか正確な計測を行います。リード検査以外に、方向検査、マーク検査、モールド欠陥検査を併せて実行できます。

[2]BGAボール面外観検査

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

高密度化するBGAパッケージのボール面において、ボール有無、ピッチ、真円度、つぶれ、パッケージ外形とボール群の位置ずれの検査が可能です。

[3]デバイス側面リードピン検査

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

表面実装デバイスのリードピンは側面視野によるスタンドオフ計測が必要とされます。ミラーやプリズムを使用した撮像環境にも対応した検査機能を提供します。

[4]部品位置計測

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

外観検査だけではなく、搬送や実装のために部品の位置を正確に計測することが要求されます。位置検査や矩形位置検査は対象物の位置や傾きを数値データとして出力する機能を提供します。

[5]検査を支える14個の検査機能

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

検査手順を組み立てるための基本パーツとなる検査機能は、現在14種類(※)が提供されています。これら検査機能の組合せにより、目的とする検査をカスタマイズ作成することが可能です。
※ マーク検査、有無検査、リード検査、面積検査、ピッチ検査、回転補正、距離検査、位置検査、電極検査、BGA検査、矩形位置検査、コンポーネント検査、回転マッチング、ボール検査の計14種


CCD倍速カメラに標準対応 - トータルな高速処理をサポート

[1]CCD倍速カメラに標準対応。その瞬間を的確に捉えます

CCD倍速カメラのランダムトリガ機能をサポートしています。
NTSC準拠のCCD標準カメラに比べて画像の取込時間を大幅に改善できます。
CCD倍速カメラが持つパーシャルスキャン機能やインタレース取込機能を利用すると、更に高速な取込みが可能となります。

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

※ 接続可能なCCDカメラは、弊社指定のものに限ります。
※ パーシャルスキャンやインタレース取込は対応しているCCDカメラが限定されます。
※ インタレース取込では縦方向の分解能が通常の1/2になります。


[2]2台のCCDカメラからの同時取込で更に高速化

画像入力回路が2回路搭載されているので、2台のCCDカメラから同時タイミングで画像を撮像することが可能です。
画像の取込時間に無駄を作りません。

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

※ 複数台のCCDカメラを接続する場合は、同一種類のCCDカメラである必要があります。
※ 同時取込をするには、指定されたチャンネルにカメラを接続する必要があります。


3D計測(コプラナリティ、スタンドオフ)対応 - 高まる要求をサポート

3台の高解像度カメラを使用して、SOP/QFPまたはBGA/CSPの外観検査を行うことが可能です。
基本構成では、1台のカメラで2Dの計測を行い、残りの2台のカメラで3D計測(コプラナリティ、スタンドオフ)を行います。

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

※SOP/QFPとBGA/CSPを併用検査する場合は、合計4台のカメラが必要になります。


運用性に優れた細やかな機能 - 製造現場をサポート

[1]対象物の位置ずれを補正する回転補正機能

回転補正機能は検査対象物の傾きや位置ずれを補正し、安定した検査を可能にします。
(回転補正を説明するイラスト、右図は参考イメージ、傾いたものを認識して自動的に真っ直ぐに補正した状態)

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

[2]不良解析に役立つ不良画像保存機能

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

運転時に不良判定された対象物の画像をハードディスクに保存することができます。保存された画像を使って手動で再検査を実行することも可能です。設定により、検査した画像全てを保存することも可能です。

[3]検査結果を数値データで記録

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

ほとんどの検査機能では、計測された数値データとあらかじめ設定された判定値を比較することによって良否判定を行っています。統計データ出力機能は、計測された数値データをカンマ区切りのデータファイルとしてハードディスクに保存します。統計データファイルはUSBメモリを使って取り出すことができるので、パソコン上で不良発生の傾向を数値的に解析することができます。

[4]複数カメラ画像を同時に表示できる画像分割機能

検査時の画面表示は、全画面、縦2分割、横2分割、4分割、縮小4分割から選択することができます。
複数カメラを接続したときでも全てのカメラ画像を同時にモニタリングすることができます。


日英中3カ国語に標準対応 - 海外での運用をサポート

[1]3カ国語に標準対応

日本語、英語、簡体字中国語の3カ国語を標準サポートしています。
言語の切換はメニューを選択するだけで瞬時に行われ、海外での調整時は日本語で、運用時には英語に切り換えるなどの使い方が簡単にできます。

VP-1000/5000 半導体・電子部品専用画像処理検査装置

[2]USBメモリを標準添付

VP-1000で作成される品種データや画像データのバックアップや、ソフトウエアのバージョンアップ時などに重宝するUSBメモリが付属します。


強力な技術サポート

経験豊富なアプリケーションエンジニアが光学条件(カメラ、レンズ、照明等)の選定やアプリケーションの組みかたまでのトータルなサポートをいたします。

ハードウェア仕様

PC部 Intel CPU もしくは互換CPU
OS Windows 2000
カメラ接続 2~12台
使用電源 AC 100 V±10 V (50 / 60 Hz)
使用電力 330 W 以下
シリアル RS-232C×2
入出力接点 デジタル入出力16点 / 16点
(フォトカプラ絶縁オープンコレクタ)
外形寸法 VP-1000:300(W)×90(H)×335(D)mm
VP-5000:430(W)×160(H)×330(D)mm
本体重量 VP-1000:約 4.9 Kg
VP-5000:約 12 Kg

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