このたび、ネプコンジャパン2016内の第33回エレクトロテストジャパンエリアに
出展する運びとなりました。

今回の展示会では、

自動車・カードコネクタの高さ検査 
3面同時検査「全方位立体検査装置」
傷・異物検査
のデモンストレーションを行います。

展示会概要
2016年1月13日(水)~1月15日(金)
10:00~18:00(15日最終日は17:00まで)
公式ホームページ:http://www.nepcon.jp/ja/

会場:東京ビッグサイト
ブース:東2ホール E15-001
    ネプコンジャパン2016内、第33回エレクトロテストジャパン

交通手段:ゆりかもめ 「国際展示場正門」駅下車 徒歩約3分
     りんかい線 「国際展示場」駅下車  徒歩約7分

ネプコンジャパンにお越しの際は、ぜひ弊社ブースにお立ち寄りください。
皆様のご来場を、弊社一同心よりお待ち申し上げております。