ホーム > お知らせ一覧 > 「外観検査アルゴリズムコンテスト2009」で優勝しました!
例年、国際画像機器展と同時に開催されるView2009のコンテストにて弊社研究部菅野が優勝(最優秀賞)致しました。
正式名称: 外観検査アルゴリズムコンテスト2009
主催 : 精密工学会 画像応用技術専門委員会
回数: 第9回
総応募数: 95件
コンテストの内容: 与えられたテーマ(画像と結果)を導き出すアルゴリズムを競う
今回のテーマ: 密集する不定形状な泡の計数
最優秀賞: 弊社研究部菅野
論文名: エッジ点列の分割と統合による楕円状物体の検出
~分割と統合の組み合わせにより複雑に重なった気泡の検出を可能としたアルゴリズム~